Analysis of asymmetric broadening of X-ray diffraction peak profiles caused by randomly distributed polarized dislocation dipoles and dislocation walls

I. Groma; G. Monnet

doi:10.1107/S0021889802010695

Article dans une revue

Analysis of asymmetric broadening of X-ray diffraction peak profiles caused by randomly distributed polarized dislocation dipoles and dislocation walls

I. Groma G. Monnet ¹

1 EDF R&D MMC - Matériaux et Mécanique des Composants

Type de document :

Article dans une revue

Domaine :

Physique [physics] / Mécanique [physics] / Mécanique des matériaux [physics.class-ph]

Liste complète des métadonnées

https://hal-edf.archives-ouvertes.fr/hal-01830748
Contributeur : Ghiath Monnet Connectez-vous pour contacter le contributeur
Soumis le : jeudi 5 juillet 2018 - 12:44:24
Dernière modification le : vendredi 21 décembre 2018 - 11:04:02

Analysis of asymmetric broadening of X-ray diffraction peak profiles caused by randomly distributed polarized dislocation dipoles and dislocation walls

Lien texte intégral

Identifiants

Collections

Citation

Exporter

Métriques

65

Analysis of asymmetric broadening of X-ray diffraction peak profiles caused by randomly distributed polarized dislocation dipoles and dislocation walls

Lien texte intégral

Identifiants

Collections

Citation

Exporter

Partager

Métriques

65