Analysis of asymmetric broadening of X-ray diffraction peak profiles caused by randomly distributed polarized dislocation dipoles and dislocation walls

I. Groma; G. Monnet

doi:10.1107/S0021889802010695

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Analysis of asymmetric broadening of X-ray diffraction peak profiles caused by randomly distributed polarized dislocation dipoles and dislocation walls

I. Groma G. Monnet ¹

1 EDF R&D MMC - Matériaux et Mécanique des Composants

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Domaine :

Physique [physics] / Mécanique [physics] / Mécanique des matériaux [physics.class-ph]

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Contributeur : Ghiath Monnet <>
Soumis le : jeudi 5 juillet 2018 - 12:44:24
Dernière modification le : vendredi 21 décembre 2018 - 11:04:02

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