Analysis of asymmetric broadening of X-ray diffraction peak profiles caused by randomly distributed polarized dislocation dipoles and dislocation walls - EDF Accéder directement au contenu
Article Dans Une Revue Journal of Applied Crystallography Année : 2002

Analysis of asymmetric broadening of X-ray diffraction peak profiles caused by randomly distributed polarized dislocation dipoles and dislocation walls

I. Groma
  • Fonction : Auteur
G. Monnet
Matériaux et Mécanique des Composants
CV

Domaines

Mécanique des matériaux [physics.class-ph]

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https://edf.hal.science/hal-01830748

Soumis le : jeudi 5 juillet 2018-12:44:24

Dernière modification le : vendredi 21 décembre 2018-11:04:02

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Dates et versions

hal-01830748 , version 1 (05-07-2018)

Identifiants

Citer

I. Groma, G. Monnet. Analysis of asymmetric broadening of X-ray diffraction peak profiles caused by randomly distributed polarized dislocation dipoles and dislocation walls. Journal of Applied Crystallography, 2002, 35 (5), pp.589 - 593. ⟨10.1107/S0021889802010695⟩. ⟨hal-01830748⟩

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