Article Dans Une Revue
Journal of Applied Crystallography
Année : 2002
Ghiath Monnet : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal-edf.archives-ouvertes.fr/hal-01830748
Soumis le : jeudi 5 juillet 2018-12:44:24
Dernière modification le : vendredi 21 décembre 2018-11:04:02
Citer
I. Groma, G. Monnet. Analysis of asymmetric broadening of X-ray diffraction peak profiles caused by randomly distributed polarized dislocation dipoles and dislocation walls. Journal of Applied Crystallography, 2002, 35 (5), pp.589 - 593. ⟨10.1107/S0021889802010695⟩. ⟨hal-01830748⟩
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