Analysis of asymmetric broadening of X-ray diffraction peak profiles caused by randomly distributed polarized dislocation dipoles and dislocation walls

I. Groma G. Monnet 1
1 EDF R&D MMC - Matériaux et Mécanique des Composants
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Contributeur : Ghiath Monnet <>
Soumis le : jeudi 5 juillet 2018 - 12:44:24
Dernière modification le : vendredi 21 décembre 2018 - 11:04:02

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I. Groma, G. Monnet. Analysis of asymmetric broadening of X-ray diffraction peak profiles caused by randomly distributed polarized dislocation dipoles and dislocation walls. Journal of Applied Crystallography, International Union of Crystallography, 2002, 35 (5), pp.589 - 593. ⟨10.1107/S0021889802010695⟩. ⟨hal-01830748⟩

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